摘要: 本文推广获得了计算偏振光学图案的格栅方法,指出该方法可以处理具有任意指向矢排布的各向异性物体。进一步用色块显示法可获得层次丰富的理论图案。通过理论计算和安验观察,验证了运用偏光显微法可以鉴别液晶缺陷的强度与符号,这将有助于从微观水平上认识向列型液晶的纹影织构。等θ条件下,格栅方法可以过渡到解析方法,在单色光和多色光照射下的计算公式均已给出。