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    黄怿, 卜乐炜. 多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用:V.PS—PI二嵌段共聚物[J]. 功能高分子学报, 2000, 13(1): 11-14.
    引用本文: 黄怿, 卜乐炜. 多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用:V.PS—PI二嵌段共聚物[J]. 功能高分子学报, 2000, 13(1): 11-14.

    多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用:V.PS—PI二嵌段共聚物

    • 摘要: 采用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术表征PS-PI二嵌段共聚物。计算了共聚物的均方末端距〈γ^2〉;验证了不同PS含量的PS-PI共聚物符合普适标定关系。结果表明在25℃的条件下,用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散标/示差粘度三检测联用技术直接获得PS-PI共聚物的特性粘度与用Ho-Duc方程计算得到的特性粘数基本吻合。

       

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